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超细粉体粒度细度检测之电阻法
发布日期：2017/07/10超细粉体粒度检测的方法我们已经介绍过激光衍射散射法(激光粒度分析仪)，离心沉降法和颗粒图像处理仪的方法，今天锡成铭粉体干燥设备有限公司给大家介绍最后一种方法，超细粉体粒度细度检测之电阻法也叫做库尔特颗粒计数器方法。
库尔特计数器其原理基于小孔电阻原理，即当小孔内有颗粒通过时，会引起小孔两端的电阻发生变化。不同粒径的颗粒引起的电阻变化不同，电阻增量正比于颗粒体积。当电源是恒流源时，两极之间会产生一个电压脉冲，其峰值正比于小孔电阻的增量，也正比于颗粒体积。只要准确测量出每一个电压脉冲的峰值，即可计算出各个颗粒的大小，并统计出粒度分布。
电阻法的特点：
1、分辨率高，是现有各种粒度测定仪中最高的。
2、测量速度快，测定一个样品一般只需15分钟左右。
3、重复性好，每次要测量1万个左右的颗粒，代表性较好。
4、操作简单，认为误差影响小。
电阻法测量的主要缺点为：
1、动态范围较小，对同一个小孔管，动态测量范围为20：1.
2、容易发生堵孔故障，使测量不能继续进行。
3、测量下限不够小，小孔越小，越容易发生堵孔，对电解质的杂质含量要求严格，一般测量下限为1um。
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